浙江MOS管探針臺(tái)

探針臺(tái)如何工作？探針臺(tái)可以固定晶圓或芯片，并精確定位待測(cè)物。手動(dòng)探針臺(tái)的使用者將探針臂和探針安裝到操縱器中，并使用顯微鏡將探針前列放置到待測(cè)物上的正確位置。一旦所有探針前列都被設(shè)置在正確的位置，就可以對(duì)待測(cè)物進(jìn)行測(cè)試。對(duì)于帶有多個(gè)芯片的晶圓，使用者可以抬起壓盤(pán)，壓盤(pán)將探針頭與芯片分開(kāi)，然后將工作臺(tái)移到下一個(gè)芯片上，使用顯微鏡找到精確的位置，壓板降低后下一個(gè)芯片可以進(jìn)行測(cè)試。半自動(dòng)和全自動(dòng)探針臺(tái)系統(tǒng)使用機(jī)械化工作臺(tái)和機(jī)器視覺(jué)來(lái)自動(dòng)化這個(gè)移動(dòng)過(guò)程，提高了探針臺(tái)生產(chǎn)率。探針臺(tái)與顯示器一體化設(shè)計(jì)。浙江MOS管探針臺(tái)

探針測(cè)試臺(tái)x-y工作臺(tái)滾珠絲杠副和導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)x-y工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)相對(duì)于平面電機(jī)工作臺(tái)，絲杠導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)結(jié)構(gòu)組成較復(fù)雜，工作臺(tái)由上層（x向）及下層（y向）兩部分組成。工作臺(tái)由兩個(gè)步進(jìn)電機(jī)分別驅(qū)動(dòng)x、y向精密滾珠絲杠副帶動(dòng)工作臺(tái)運(yùn)動(dòng)，導(dǎo)向部分采用精密直線滾動(dòng)導(dǎo)軌。由于運(yùn)動(dòng)部分全部采用滾動(dòng)功能部件，所以具有傳動(dòng)效率高、摩擦力矩小，使用壽命長(zhǎng)等特點(diǎn)。這種結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)應(yīng)放置在溫度23±3 ℃，濕度≤70%，無(wú)有害氣體的環(huán)境中，滾珠絲杠、直線導(dǎo)軌應(yīng)定期加精密儀表油，但不可過(guò)多，值得指出的是，這種結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)在裝配過(guò)程中，從直線導(dǎo)軌的直線性，上下層工作臺(tái)之間的垂直度以及工作臺(tái)的重復(fù)性，定位精度等都是用專業(yè)的儀器儀表調(diào)整，用戶一般情況不能輕易改變，一旦盲目調(diào)整后很難恢復(fù)到原來(lái)的狀態(tài)，所以對(duì)需要調(diào)整的工作臺(tái)應(yīng)有專業(yè)生產(chǎn)廠家或經(jīng)過(guò)培訓(xùn)的專業(yè)人員完成。CV測(cè)試探針臺(tái)推薦廠家電路板各通道及載體高頻高速測(cè)試。

低溫探針臺(tái)是用來(lái)無(wú)損檢測(cè)樣品的電性能，用于半導(dǎo)體、微電子、固體物理、超導(dǎo)等研究冷域，是研究材料的電阻率、磁電阻等各種物理特性的有力工具。穩(wěn)定、可靠、方便的改變?cè)诤艿偷恼婵蘸蜏囟认聦?duì)器件和電路的探測(cè)。內(nèi)置振動(dòng)隔離，智能熱管理，使用低排放的材料，先進(jìn)的密封性，使該系統(tǒng)非常適合一系列需要更好的真空水平的應(yīng)用，如石墨烯的研究，分子電子學(xué)等的，系統(tǒng)采用閉式循環(huán)制冷機(jī)和專有的熱管理，可以經(jīng)濟(jì)快速的操作。內(nèi)置的隔振小化振動(dòng)符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。超穩(wěn)定的微操縱滿足設(shè)備探針的準(zhǔn)確和可重復(fù)的接觸。低溫探針臺(tái)集成系統(tǒng)有以下特點(diǎn)：1、在真空探針臺(tái)下進(jìn)行完整的霍爾效應(yīng)測(cè)試的系統(tǒng)。2、支持一系列直流條件下霍爾效應(yīng)測(cè)試。3、變溫范圍10k-400k，采用閉循環(huán)制冷機(jī)制冷，不需要消耗制冷劑。4、包含8400軟件，可以做簡(jiǎn)單的系統(tǒng)操作、數(shù)據(jù)采集和分析。5、支持多載流子分析數(shù)據(jù)導(dǎo)出。

探針臺(tái)操作步驟：1.將測(cè)試產(chǎn)品放入探針臺(tái)的臺(tái)盤(pán)上;2.打開(kāi)顯微鏡光源燈（LED或光源機(jī)）;3.打開(kāi)背光面板光源開(kāi)關(guān);4.調(diào)整Zaxis高度對(duì)焦，使能清楚看到樣品圖象為OK;5.調(diào)整目鏡和Zoom倍率，使影像清晰;二.點(diǎn)針操作步驟：1.通過(guò)移動(dòng)鏡頭組部分找到Sample要下針的地方;2.調(diào)整針座位置，將三軸歸零;3.調(diào)整針座仰角機(jī)構(gòu)，使針尖位于顯微鏡射出光斑上方1-2mm處;4.利用低倍鏡頭找到針尖，將針尖移至視野位置并通過(guò)調(diào)整焦距使針尖達(dá)到清晰;6.切換至高倍鏡頭，找到針尖;7.利用針座的X-Y-Z軸微調(diào)下針;8.量測(cè)完畢后，逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)鈕針座的仰角機(jī)構(gòu)的旋鈕取出快速將針往上抬起，針尖即可移開(kāi)針Sample;移動(dòng)座平臺(tái)或者顯微鏡相關(guān)移動(dòng)機(jī)構(gòu)時(shí)，請(qǐng)注意小心避免與鏡頭或被測(cè)品碰撞9.移開(kāi)針座，取出背光面板光源和光源燈等電源.晶圓級(jí)測(cè)試自動(dòng)探針臺(tái)。

探針臺(tái)的探針的清洗，1、毛刷清潔法：適用范圍為5微米以上探針，微波探針。不適用于針尖直徑在5微米以下的軟針。清洗方法是拿一張A4白紙，撕成細(xì)長(zhǎng)條的形狀，撕成細(xì)長(zhǎng)的三角形形狀(大概5cm高左右)。將待清潔探針裝好到探針夾具上并置于顯微鏡視顯微鏡即可，放大倍數(shù)太高無(wú)法操作)，利用撕下的紙片作為毛刷，輕輕地將探針沾污物刷下。2、壓針清潔法：適用范圍是所有探針，灰塵比較靠近探針的情況。清洗方法是拿一張A4白紙，裁成樣品臺(tái)大小(或適當(dāng)?shù)某叽?，固定于樣品臺(tái)上。將待清潔探針裝好到探針夾具上并置于顯微鏡下，慢慢下壓探針，待探針接觸到白紙后，向后移動(dòng)探針。多嘗試幾次走到探針上的灰塵脫落。3、超聲清潔法：適用范圍是所有探針，清洗方法是取適量的蒸餾水置于燒杯內(nèi)(燒杯大小以適合用戶操作為宜)，并放到超聲波清洗機(jī)內(nèi)。打開(kāi)超聲波清洗機(jī)，然后手捏住探針(注意戴丁腈手套)，將針尖放入蒸餾水內(nèi)，讓震動(dòng)把灰塵震落，可以隔一兩分鐘用顯微鏡觀察一次，直到灰塵掉落為止。將探針?lè)诺竭m當(dāng)?shù)奈恢昧栏珊蠹纯墒褂谩Ｕ?qǐng)注意，若清潔微波探針，須將探針?lè)胖谜砹栏?。探針臺(tái)是檢測(cè)半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)、光參數(shù)的關(guān)鍵設(shè)備。浙江非標(biāo)探針臺(tái)

按照操作方式來(lái)劃分成：手動(dòng)探針臺(tái)、半自動(dòng)探針臺(tái)、全自動(dòng)探針臺(tái)。浙江MOS管探針臺(tái)

手動(dòng)探針臺(tái)的使用方式：1.將樣品載入真空卡盤(pán)，開(kāi)啟真空閥門(mén)控制開(kāi)關(guān)，使樣品安全且牢固地吸附在卡盤(pán)上。2.使用卡盤(pán)X軸/Y軸控制旋鈕移動(dòng)卡盤(pán)平臺(tái)，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。3.使用卡盤(pán)X軸/Y軸控制旋鈕移動(dòng)卡盤(pán)平臺(tái)將樣品待測(cè)試點(diǎn)移動(dòng)至顯微鏡下。4.顯微鏡切換為高倍率物鏡，在大倍率下找到待測(cè)點(diǎn)，再微調(diào)顯微鏡聚焦和樣品x-y，將影像調(diào)節(jié)清晰,帶測(cè)點(diǎn)在顯微鏡視場(chǎng)中心。5.待測(cè)點(diǎn)位置確認(rèn)好后,再調(diào)節(jié)探針座的位置,將探針裝上后可眼觀先將探針移到接近待測(cè)點(diǎn)的位置旁邊,再使用探針座X-Y-Z三個(gè)微調(diào)旋鈕,慢慢的將探針移至被測(cè)點(diǎn),此時(shí)動(dòng)作要小心且緩慢，以防動(dòng)作過(guò)大誤傷芯片，當(dāng)探針針尖懸空于被測(cè)點(diǎn)上空時(shí)，可先用Y軸旋鈕將探針退后少許，再使用Z軸旋鈕進(jìn)行下針，則使用X軸旋鈕左右滑動(dòng)，觀察是否有少許劃痕，證明是否已經(jīng)接觸。6.確保針尖和被測(cè)點(diǎn)接觸良好后，則可以通過(guò)連接的測(cè)試設(shè)備開(kāi)始測(cè)試。浙江MOS管探針臺(tái)

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